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關于矩陣鍵盤的檢測

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ID:70481 發表于 2014-12-16 17:55 | 顯示全部樓層 |閱讀模式
現在睡不著,就把以前想到的矩陣鍵盤的檢測分享一下吧,可能已經有人想到了,那就算我是無聊吧。現在老師上課講的矩陣鍵盤的檢測都是一行一行或一列一列檢測,代碼比較繁瑣,以4×4的矩陣鍵盤為例(接的IO口為P0),我的想法是一次性將低四位全部為0(P0=0xf0),然后取P0的高四位,第二步將高四位為0(P0=0x0f),取P0的低四位,將兩次的數值合并即得到鍵值。這個想法我想到之初覺得太好了,但轉念一想, 遇到了對單片機內部硬件的困惑,將兩個IO口直接相連,其中一個IO口拉低電平,那另一個IO口會怎么樣?是高電平被低電平拉低還是低電平被高電平太高?當時不確定,就沒去多想,不過現在我可以說是高電平被低電平拉低,因為我剛剛做過實驗,而且看了書上IO口的硬件組成(有關場效應管的東西)也可以得到相同的結論。這是仿真做的圖片,另外,用這種方法檢測的另一個好處就是能支持組合鍵的識別。下面是簡單的代碼:
unsigned char get_key_value(void)
{
        unsigned char value;
        KEY=0xf0;        
        value=KEY;
        KEY=0x0f;                                       
        value=value|KEY;
        return value;
}
好了 ,睡覺,都沒睡意了。




proteus仿真圖
003511zb2v2h1yzegzheeb.png.thumb.jpg

仿真文件下載:
代碼.zip (38.88 KB, 下載次數: 27)

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