4054，4056充電芯片，總是有不良0.002%的原因

ID:1045025 · 發表于 2026-5-19 15:26

我們都知道USB熱拔插會產生浪涌和瞬間的尖峰電壓。同時我們經收集工廠對市面上多家品牌常規充電芯片的反饋收集，我們會發現有2-5‰左右的不良，經過對芯片進行收集，開蓋，研究，分析，收集到其中約50%是在瞬間尖峰電壓過高導致超過芯片極限耐壓，過高的電壓把芯片內部打損壞。

在此沒有過壓保護OVP芯片（如下圖產品）出來前，差不多在快充充電器興起之前。我們一般對于浪涌尖峰的處理方式大概有三種：

1，正極加串電阻的方式，適合小電流，大電流會損耗電壓值和效率，同時電流大時，電阻本身溫度也會高，優點小，方便，缺點：適合500mA左右電流以下

2，加電解電容，電解電容的有較高的ESR等效串聯電阻來吸收，有的人說陶瓷貼片電容也有，但是ESR低，起不到好的效果。優點成本低廉，缺點電容高度，放不下對體積有要求的產品，有不少局限性

3，加TVS管

4，加OVP過壓保護芯片

平芯微同步推出了眾多規格的過壓OVP保護芯片，和增加了可調限流OCP+過壓OCP二合一的保護芯片，滿足很多場景需求。

在手機快充越來越多，基本知名品牌都把快充做新手機標配了，市面上快充充電器（5V,9V,12V,20V）也越來越多，我們知道產品都會被市場引導區分出中高低三種品質充電器出來。剛好在TWS耳機興起的時候，過壓保護OVP芯片才得到了重要，市場數量大幅度增加，耳機因為放在耳朵旁，距離人體脆弱的器官都太近，需要更好的保護。再加之國外客戶很早就意識到了快充充電器萬一損壞帶來的危險，需要增加過壓保護OVP芯片等等綜合考慮。

平芯微也早早推出了集成OVP芯片+4056充電管理的單節鋰電池充電芯片PW4056H，

也根據市場需求推出了集成輸入耐壓28V，6.8V的OVP過壓保護和BAT腳耐壓提高到20V的系列高品質，高雙耐壓產品單節鋰電池充電芯片，PW4056HH(ESOP8封裝，)，PW4057H（SOT23-6封裝），PW4054H（SOT23-5封裝）

1，常見小電池幾百mAH的我們一般根據LED燈指示選擇有4054和4057,SOT23-5和SOT23-6的線性充電IC，平芯微的PW4054H和PW4057H在品質和可靠性尤為突出，具有輸入OVP過壓6.5V關閉充電，輸入同時可以抗28V耐壓，及時快充充電器誤輸入9V,12V也能不會損壞，正常沒有這個功能的芯片，在如今快充充電器普及很高的環境下，PW4054H和PW4057H在高端電子產品具有很高位置。

2，電池1000-2000mah一般也有客戶任然選擇線性充電，但是選擇具有更高電流的4056，最高1A，。4054,4056因為是線性充電，具有很強，簡潔，容易的電路設計很受大家喜歡。在4056中，PW4056HH具備了輸入OVP過壓保護時，還具有電池耐高壓20V保護，這個20V耐壓很多人不理解，認為鋰電池4.2V，

為什么需要20V耐壓呢？

實際在電源領域，我們需要使用示波器和熟悉掌握才能在電源行業理解和分析。當鋰電池再重負載放電時，如果突然的斷開，會產生瞬間的浪涌電流和瞬間尖峰電壓，這個瞬間的尖峰電壓可能會達到6V,8V等，沒有固定性，足夠高的耐壓，才能很多的面對不對情況下的應用環節和場景。

值得好的是，PW4054H和PW4057H，PW4056HH都是具有輸入和輸出高耐壓的充電IC了

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