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標題: PCB板過孔不良切片圖片芯片Xray SAT掃描圖片 [打印本頁]

作者: zhshch.123@163. 時間: 2020-8-13 10:27
標題: PCB板過孔不良切片圖片芯片Xray SAT掃描圖片
瀏覽了一些帖子沒怎么看到對芯片或者PCB的內部分享圖片分享一下因為PCB內部過孔不良的失效圖片。一般失效用到的有
超聲波掃描檢測：無損觀察芯片內部是否存在分層，空洞
Xray檢測：無損觀察芯片內部打線芯片Die位置大小等
開封Decap：化學腐蝕等手段去除芯片表面塑封，觀察芯片內部狀況并與OK品進行比較
切片Crosssection：物理研磨手段，觀察芯片內部截面，一般先進行1.取樣 2.清洗 3.制樣 4.研磨 5.拋光

對于像過孔電容電阻失效等不良，需要細心，因為失效樣品有限，只有準確根據不良現象才能找到失效的根本原因，進而降低產品不良風險。

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PCB過孔位置

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過孔切片初步放大

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過孔切片放大

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過孔斷層位置金相顯微鏡觀察

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貼片電容外觀

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電容切片放大

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電容放大圖片可觀察電容層數

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芯片Xray觀察內部打線

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SAT觀察芯片分層

作者: sunboy-007 時間: 2020-12-11 10:16
這個帖子不錯，學習了。。。

作者: fj51hei 時間: 2020-12-20 10:52
有一芯片 VDD擊穿能分析？

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