在深入了解scan技術(shù)之前，我們先來比較下分別針對組合電路和時(shí)序電路的測試過程。很顯然，在芯片制造出來后，我們只能通過其輸入輸出端口來對芯片進(jìn)行各項(xiàng)檢測。在如圖A所示的組合電路中，假設(shè)F處有一短接電源地的固定0故障(stuck-at 0 fault) 。要檢測到這樣的物理缺陷，首先要在A端和B端給1的輸入激勵(lì)，這樣在F處可以得到1值從而激活目標(biāo)fault。而要將F處的值傳遞到輸出端進(jìn)行觀測，C端就要有一個(gè)0的輸入。這樣我們就得到了一個(gè)能檢測到目標(biāo)fault的結(jié)構(gòu)性測試向量：110(ABC). 在該組合電路沒有故障(fault) 的情況下，我們應(yīng)該可以在輸出Z端觀測到一個(gè)正確的1值。而在F處有stuck-at0 故障的情況下，我們在輸出Z端就會(huì)觀測到0值從而檢測到該fault。
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